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電極的對數(shù)對叉指電極傳感器信噪比的大小基本沒有影響。叉指電極間距的減小可以使信噪比增大的同時提高信號幅。如應(yīng)用于化學(xué)傳感領(lǐng)域，叉指電極間距的減小還可以有效地提高化學(xué)反應(yīng)的速率、加快建立反應(yīng)進(jìn)行過程，從而能夠提高傳感器性能，并縮短叉指電極傳感器反應(yīng)的時間。叉指電極傳感器的電極寬度的減小在提高信噪比的同時會使檢測信號的幅值降低。柔性叉指電極微型探針臺是一款專門用于叉指電極的經(jīng)濟(jì)型探針臺。

小型真空探針臺高溫?zé)崤_KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個高溫的變溫測量環(huán)境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。

叉指電極傳感器主要包括四個結(jié)構(gòu)參數(shù)，分別為:叉指電極對的對數(shù)、叉指寬度、相鄰叉指之間的間隙距離以及叉指電極的厚度。這四個參數(shù)對基于叉指電極的生化傳感器關(guān)鍵性能指標(biāo)都有很大影響。硅基叉指電極結(jié)構(gòu)高低溫探針臺KT-Z4019MRL4T是用于叉指電極的一款性價比很高的探針臺，可進(jìn)行高溫和低溫，采用純銀熱臺，有導(dǎo)熱更好，不易氧化等特點(diǎn)。

高溫?zé)崤_小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環(huán)境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運(yùn)特性、高頻特性測試等

微間距的叉指電極是一種為常用的微間距電極結(jié)構(gòu)，它被廣泛的應(yīng)用于非破壞性測試、電子通訊、化學(xué)測試等多個領(lǐng)域。 一般來說，不同的應(yīng)用領(lǐng)域?qū)τ诓嬷鸽姌O的形狀、幾何學(xué)尺寸、加工工藝、材料的選擇、建模分析、系統(tǒng)集成以及數(shù)據(jù)的分析都有不同的要求，因此對于不同的領(lǐng)域我們應(yīng)該區(qū)分對待。硅基叉指電極微型探針臺KT-Z4019MRL4T是一款專門用于叉指電極的經(jīng)濟(jì)型探針臺。